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文章出處：原創編輯：admin 發表時間：2023-11-16

常溫固態硬盤BIT老化箱可以用於M2、SATA接口固態硬盤的BIT老化測試，常溫BIT測試有多個測試項目，下麵為大家做簡單介紹。

常溫固態硬盤BIT老化箱的測試項目：

測試設備：環儀儀器常溫固態硬盤BIT老化箱

測試依據：YD T 3824-2021 麵向互聯網應用的固態硬盤測試規範

測試項目：

1.吞吐量：主要測硬盤的吞吐量和延遲，測試時間10min。

2.IOPS：測量硬盤的IOPS和時延，將讀寫比例分別設置為隨機: 100%read、90%read10%write、70%read30%write 、 50%read50%write、30%read702write、10%read90% write、100%write。

3.寫飽和測試（FIO）：測量被測設備對持續隨機4KiB寫的IOPS曲線，測試時間24h。

4.Trim前後比較測試：比較被測SSD在TRIM命令激活後的恢複能力（可選)，測試記錄吞吐量、IOPS及對應時延的時間曲線。

5.交叉刺激恢複測試：主要測量SUT在不同相鄰負載下的相互作用。

6.硬盤壓力測試：測試硬盤在壓力運行下的運行情況。

7.複位壓力測試：測試硬盤複位能力，采用高腳自動化測試，重複1~3100次。

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