隨著SSD（固態硬盤）在各種應用中的廣泛使用，其性能和耐久性測試變得尤為重要。小編將根據用戶的測試要求，在室溫下進行固態硬盤BIT測試的實施方法，以確保SSD在實際工作中的可靠性和穩定性。

室溫SSD老化試驗櫃使用步驟：

測試設備：環儀儀器 室溫SSD老化試驗櫃

測試樣品：SSD（M2接口/SATA接口均可）

測試步驟：

步驟一：建立通信

樣品在SSD老化試驗櫃安裝好後，使用MI協議（NVM Express Management Interface協議）建立服務器的BMC與SSD之間的通信鏈路。

設置通信頻率，以確保服務器的BMC能夠按照設定的頻率從SSD獲取NAND溫度值。

步驟二：獲取溫度值

通過已建立的通信鏈路，BMC從SSD獲取NAND溫度值。

計算BMC獲取的NAND溫度值與BIT測試的需求溫度值之間的溫度偏差值。

步驟三：設定溫度控製器

設定溫度偏差閾值，該閾值用於判斷NAND溫度是否在可接受範圍內。

根據計算得到的溫度偏差值與設定的閾值大小關係，選擇相應的溫度控製器。

步驟四：控製風扇轉速

選擇支持Fuzzy-PID控製方法的溫度控製器。

根據選擇的控製器，調節BMC對風扇轉速進行智能控製，以使SSD的NAND溫度值逐漸接近需求溫度值。

在測試過程中，SSD老化試驗櫃可控製整個測試過程的溫度，確保溫度穩定，一旦溫度超出閾值，就會啟動溫度控製器來調整溫度。

從上麵的測試可以看出，室溫SSD老化試驗櫃為測試提供了測試環境以及所需測試溫度。