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文章出處：原創編輯：admin 發表時間：2024-06-17

整體式升溫測試室是針對高性能電子產品模擬高溫惡劣環境的試驗設備，是提高產品穩定性、可靠性的重要實驗設備，測試室溫度範圍+40℃~+100℃，適合所有電子產品的老化測試。對於測試室的選型，大家可以參考下麵為大家介紹的內容。

整體式升溫測試室選型參數：

整體式升溫測試室選型要求：

1.加熱試驗

將溫度傳感器置於高溫老化試驗箱工作空間內任意一點，全功率加熱，記錄工作室溫度首次由室溫升至最高工作溫度的時間，結果不應超過120分鍾。

2.表麵溫度測試

高溫老化試驗箱工作溫度首次達到最高工作溫度並穩定2小時後，用溫度計測試箱體表麵溫度，對最高工作溫度不超過200℃的試驗箱，表麵溫度不應大於室溫加35℃；最高工作溫度超過200℃，表麵溫度應按公式確定。

3.絕緣電阻測試

試驗按GB998中6.2規定的方法進行，其結果應與電加熱器接線端子（含引出線）對控製係統開路時進行1500V、交流50H、1min的絕緣強度試驗相一致，絕緣不應被擊穿。

4. 介電強度測試

試驗按GB998中6.3條的規定進行，當試驗結果符合電加熱器接線端子（含引出線）與控製係統斷路要求時，外殼應能承受1500V、交流50H，曆時1min的介電強度試驗，絕緣不應被擊穿。

5.噪音測試

按照ZBN61012規定的方法進行測試，結果整機噪聲不高，為75dB(A)。

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