主板驅動老化測試房可以模擬低溫、高溫的老化試驗，讓產品在此環境中接上模擬負載通電運作，測試時間可在0-99.9小時內任意設定，通過此測試程序可查出不良品或不良零件。主板驅動老化測試的測試流程怎麼做呢，下麵，我們來看看主板驅動老化測試方法。

主板驅動老化測試房的測試流程：

一、設備準備：

試驗設備：環儀儀器 主板驅動老化測試房

供電模塊：檢查供電模塊。

控製模塊：如ARM Cortex-M0內核單片機已正確連接並初始化。

電流檢測模塊：驗證霍爾電流傳感器的連接和功能。

模擬量輸入/輸出模塊：檢查模擬量輸入控製單元和數字量輸出控製單元的連接和功能。

顯示模塊：確保LED指示燈和數碼管顯示器連接正確，並能正常工作。

通信模塊：確認通信模塊（如UART）能夠與上位機通信。

二、上電初始化：

將待測主板放入老化測試房中，連接供電模塊和電流檢測模塊。控製模塊上電初始化，采集電流傳感器的初始值，並將初值保存記錄。

三、上電測試：

開始對多路電流值進行輪流掃描采樣，將采樣值與初值進行比較，判斷是否有測試回路接通，以此識別是否上電成功。如果上電成功，則控製對應的LED指示燈常亮響應。

四、功能測試：

在執行老化測試時，例如補光燈、加熱電阻、電機轉向等功能的開啟和關閉測試，可以通過本實施例中的測試係統對各路電流值進行分時、區間采樣，通過現有的分析方式方法來分析區間電流的波動，判斷老化測試是否正常。

五、老化失效判斷：

如果在老化測試過程中出現異常情況，例如電流值超過預設閾值或電流波動過大等，則判斷為老化失效。此時，對應LED指示燈閃爍指示，並記錄該主板的老化測試時長等信息。