SJ/T 11379-2008 是等離子體顯示器件的標準，該標準詳細規定了等離子體顯示器件的氣候和機械試驗方法。該標準旨在確保等離子體顯示器件在各種氣候和機械條件下都能正常工作，並且具有一定的可靠性和穩定性。

一、範圍：
本部分規定了氣候和機械的試驗方法。

本部分適用於彩色等離子體顯示模塊（以下稱等離子體顯示器件）。

二、試驗項目：
高低溫試驗、溫濕度循環試驗、恒定濕熱試驗、低氣壓試驗、振動試驗、衝擊試驗等。

三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、低氣壓試驗箱、振動試驗機、衝擊試驗台等。

四、設備廠商：
環儀儀器

五、試驗程序（部分）：

高溫貯存試驗：
a)試驗用箱體內的溫度應與實驗室內溫度一致。當等離子體顯示器件與實驗室環境溫度一致後可按照5.6的要求送入試驗用箱體，除非另有要求;

b)將箱體內溫度升至要求嚴酷程度所對應的溫度,並允許經過一定的時間以使等離子體顯示器件達到溫度穩定狀態（GB/T 2421-1999的4.8定義了溫度穩定性)。箱體內5 min內的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。試驗溫度應按照GB/T 2421-1999中4.6的要求進行測試;

c)將等離子體顯示器件暴露於該高溫環境中，並且存放相關規範所規定的時間。當溫度穩定時即開始計時;

d)如果相關規範有要求，可按6.1.4進行中間測量;

e)試驗時間到達後,等離子體顯示器件應留在箱體內並將溫度逐步降至測量用標準大氣條件所規定的值。箱體內5min內的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。該過程結束後，等離子體顯示器件應在箱體內進行恢複過程或其他適當過程。